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IC EMC测试

集成电路(IC)的电磁兼容(EMC)测试,是评估其在电磁环境中既不会产生过量干扰(EMI),也能对外部干扰保持足够抗扰度(EMS)的关键手段。随着IC工作频率和集成度的提升,EMC测试已成为芯片设计、验证和认证的核心环节。

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汽车集成电路电磁兼容测试的必要性

• IC作为汽车电子系统的组成部分,其影响汽车电子系统的EMC;

• IC可产生骚扰信号,为骚扰源,例如可将给其供电的直流电源转换为高频电流或电压,从而产生无用发射;

• IC也易受过电压或过电流而损坏,例如耦合到IC引脚的噪声也会使其发生故障。


发射测试:

辐射发射-TEM/GTEM小室法IEC61967-2

辐射发射-带状线法IEC61967-8

传导发射-1Ω/150Ω法IEC61967-4


辐射抗扰测试:

辐射抗扰-TEM小室法IEC62132-2

传导抗扰-DPI法IEC62132-4

辐射抗扰-带状线法IEC62132-8


脉冲抗扰测试:

EFT注入法IEC61000-4-4

静电测试ESDIEC61000-4-2

车辆瞬态干扰注入法ISO7637-2



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